Lebensdauerabschätzung

Kenntnis der Ausfallursachen und Ausfallzeiten – für eine zuverlässige Entwicklung

Der moderne Entwicklungs- und Fertigungsprozess elektronischer Baugruppen wird zunehmend durch die hohen Anforderungen an die Zuverlässigkeit dieser Komponenten geprägt. Es werden sowohl höhere Grenzen bei den Einsatzbedingungen als auch eine höhere Genauigkeit der Lebensdauerprognose gefordert. Wir setzten sowohl entwicklungsbegleitende numerische Simulationen  als auch experimentelle Lebensdaueruntersuchungen ein, um diese Ziele zu erfüllen.   

Um die Simulationsergebnisse elektronischer Baugruppen und Aufbau- und Verbindungstechnologien zuverlässig hinsichtlich ihrer Zuverlässigkeit und Lebensdauer zu bewerten, sind neben numerischer Simulation auch begleitende experimentelle Prüfungen notwendig. Hierbei werden Entwicklungsmuster verschiedenen Zuverlässigkeitsprüfungen unter Temperatur, Feuchte und mechanischer Belastung ausgesetzt, um deren Ausfallverhalten und -zeitpunkt zu bestimmen. Durch eine entwicklungsbegleitende Modellierung und Simulation können Zuverlässigkeitsrisiken bereits früh in der Entwicklung erkannt werden.

Die Kopplung von mechanischer Prüfung, Umweltsimulation und der numerischen Simulation erlaubt bereits während der Entwurfsphase zuverlässige Aussagen zu mechanischen Belastungen, Materialverhalten, Lebensdauer und Ausfallursachen zu treffen. Die Entwickler gewinnen größtmögliche Transparenz und eine solide Grundlage für die effiziente Gestaltung zuverlässiger Baugruppen.

Kontakt


Dr.-Ing. Tobias Grözinger
Hahn-Schickard,
Stuttgart
Tel.: +49 711 685-83179
Tobias.Groezinger@Hahn-Schickard.de
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